Podrobnosti e-časopisu

Název: Digest of Papers 1991 VLSI Test Symposium 'Chip-to-System Test Concerns for the 90's Recenzováno: Ne   Dostupnost: IEEE Electronic Library (IEL)   Dostupné pro: NTK   Dostupnost: IEEE Electronic Library (IEL) Conference Proceedings   Dostupné pro: NTK