Podrobnosti e-časopisu
Název:
VLSI Test Symposium
Zkrácený:
IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM
Alternativní:
Proceedings
Alternativní:
VLSI Test Symposium
ISSN:
1093-0167
LCCN:
2005262240
Recenzováno:
Ne
Dostupnost:
IEEE Electronic Library (IEL)
Dostupný od 1991
Dostupné pro:
NTK
Kategorie:
Engineering: Electrical Engineering