Název: |
Journal of Electronic Testing-Theory and Applications
|
Zkrácený: |
J ELECTRON TEST THEORY APPL |
Zkrácený: |
J ELECTRON TESTING THEORY APP |
Zkrácený: |
J ELECTRON TEST |
Zkrácený: |
J ELEC TEST |
Zkrácený: |
J ELECTRON TEST THEORY APPL JETTA |
Zkrácený: |
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING THEORY AND APPLICATIONS |
Zkrácený: |
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING |
Zkrácený: |
J. ELECTRON. TEST.-THEORY APPL |
Alternativní: |
Journal of Electronics |
ISSN: |
0923-8174 |
LCCN: |
95657656 |
CODEN: |
JTTAER |
Recenzováno:
|
Ano
|
|
Dostupnost: |
ProQuest Central
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
ročník: 10
|
Poslední
1 roky
nedostupné
|
|
Dostupné pro: |
NTK, ÚOCHB |
|
Dostupnost: |
Science Journals
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
ročník: 10
|
Poslední
1 roky
nedostupné
|
|
Dostupné pro: |
ÚOCHB |
|
Dostupnost: |
SpringerLink Journals
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
ročník: 10
číslo: 1
|
|
Dostupné pro: |
NTK, ÚOCHB, VŠCHT |
|
Dostupnost: |
Technology Collection
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
ročník: 10
|
Poslední
1 roky
nedostupné
|
|
Dostupné pro: |
ÚOCHB |