| Název: |
Journal of Electronic Testing-Theory and Applications
|
| Zkrácený: |
J ELECTRON TEST THEORY APPL |
| Zkrácený: |
J ELECTRON TESTING THEORY APP |
| Zkrácený: |
J ELECTRON TEST |
| Zkrácený: |
J ELEC TEST |
| Zkrácený: |
J ELECTRON TEST THEORY APPL JETTA |
| Zkrácený: |
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING THEORY AND APPLICATIONS |
| Zkrácený: |
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING |
| Zkrácený: |
J. ELECTRON. TEST.-THEORY APPL |
| Alternativní: |
Journal of Electronics |
| ISSN: |
0923-8174 |
| LCCN: |
95657656 |
| CODEN: |
JTTAER |
|
Recenzováno:
|
Ano
|
| |
| Dostupnost: |
ProQuest Central
|
| |
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
|
|
Poslední
1 roky
nedostupné
|
|
| Dostupné pro: |
NTK, ÚOCHB |
| |
| Dostupnost: |
Science Journals
|
| |
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
|
|
Poslední
1 roky
nedostupné
|
|
| Dostupné pro: |
ÚOCHB |
| |
| Dostupnost: |
SpringerLink Journals
|
| |
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
ročník: 10
číslo: 1
|
|
| Dostupné pro: |
NTK, ÚOCHB, VŠCHT |
| |
| Dostupnost: |
Technology Collection
|
| |
|
|
|
Dostupný od
1997/02/01
|
|
Poslední
1 roky
nedostupné
|
|
| Dostupné pro: |
ÚOCHB |
