Podrobnosti e-časopisu

Název: VLSI Test Symposium Zkrácený: IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM Alternativní: Proceedings Alternativní: VLSI Test Symposium ISSN: 1093-0167 LCCN: 2005262240 Recenzováno: Ne   Dostupnost: IEEE Electronic Library (IEL)   Dostupný od 1991 Dostupné pro: NTK

Kategorie:
Engineering: Electrical Engineering